溫度沖擊試驗(yàn)箱，又稱高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫溫度冷熱沖擊試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備，可滿足電工電子產(chǎn)品及軍用設(shè)備等環(huán)境試驗(yàn) - 高溫試驗(yàn)/低溫試驗(yàn)/溫度變化試驗(yàn)/高低溫沖擊試驗(yàn)/溫度沖擊試驗(yàn)/冷熱沖擊試驗(yàn)。
產(chǎn)品介紹
星拓高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱均以氣體為媒介實(shí)現(xiàn)快速溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康模罁?jù)溫區(qū)布局分兩箱溫度沖擊試驗(yàn)箱和三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱，可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，具有高低溫交變試驗(yàn)箱的功能。（注：冷熱沖擊試驗(yàn)箱無法進(jìn)行濕熱試驗(yàn)！）
計(jì)算機(jī)軟件著作權(quán)登記證書：無霜型冷熱沖擊試驗(yàn)箱軟件V3.0 （登記號：2019SR0231713）
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法
1）GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
3）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
4）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
5）GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；
6）GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；
7）GJB/T 150.5-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn)。
注：支持非標(biāo)定制
